Analisis semikonduktor
-
DB-FIB
Pengenalan Layanan Saat ini, DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) diterapkan secara luas dalam penelitian dan inspeksi produk di berbagai bidang seperti: Material keramik, Polimer, Material logam, Studi biologi, Semikonduktor, Geologi Cakupan layanan Material semikonduktor, material molekul kecil organik, material polimer, material hibrid organik/anorganik, material non-logam anorganik Latar Belakang Layanan Dengan kemajuan pesat dalam elektronika semikonduktor dan sirkuit terpadu, teknologi ... -
Analisis Fisika Destruktif
Konsistensi kualitasdari proses manufakturdi dalamkomponen elektronikadalahprasyaratagar komponen elektronik dapat memenuhi penggunaan dan spesifikasi terkait. Sejumlah besar komponen palsu dan yang diperbarui membanjiri pasar pasokan komponen, pendekatanuntuk menentukan keaslian komponen rak adalah masalah utama yang mengganggu pengguna komponen.
-
Analisis Kegagalan
Dengan semakin pendeknya siklus R&D perusahaan dan pertumbuhan skala manufaktur, manajemen produk dan daya saing produk perusahaan menghadapi berbagai tekanan dari pasar domestik dan luar negeri. Selama seluruh siklus hidup produk, kualitas produk terjamin, dan tingkat kegagalan yang rendah atau bahkan nol. Kegagalan menjadi daya saing penting suatu perusahaan, tetapi juga merupakan tantangan bagi pengendalian kualitas perusahaan.
