Analisis dan evaluasi mikrostruktur bahan semikonduktor

Deskripsi Singkat:

Detail Produk

Label Produk

Pengenalan Layanan

Dengan terus berkembangnya sirkuit terpadu berskala besar, proses pembuatan chip menjadi semakin kompleks. Struktur mikro dan komposisi bahan semikonduktor yang tidak normal menghambat peningkatan hasil chip, yang membawa tantangan besar bagi penerapan teknologi semikonduktor dan sirkuit terpadu baru.

GRGTEST menyediakan analisis dan evaluasi mikrostruktur material semikonduktor yang komprehensif untuk membantu pelanggan meningkatkan proses semikonduktor dan sirkuit terpadu, termasuk persiapan profil tingkat wafer dan analisis elektronik, analisis komprehensif sifat fisik dan kimia material terkait manufaktur semikonduktor, formulasi dan implementasi program analisis kontaminan material semikonduktor.

Ruang lingkup layanan

Bahan semikonduktor, bahan molekul kecil organik, bahan polimer, bahan hibrida organik/anorganik, bahan non-logam anorganik

Program layanan

1. Persiapan profil tingkat wafer chip dan analisis elektronik, berdasarkan teknologi sinar ion terfokus (DB-FIB), pemotongan tepat area lokal chip, dan pencitraan elektronik waktu nyata, dapat memperoleh struktur profil chip, komposisi, dan informasi proses penting lainnya;

2. Analisis komprehensif sifat fisik dan kimia bahan manufaktur semikonduktor, termasuk bahan polimer organik, bahan molekul kecil, analisis komposisi bahan non-logam anorganik, analisis struktur molekul, dll.;

3. Perumusan dan penerapan rencana analisis kontaminan untuk bahan semikonduktor. Hal ini dapat membantu pelanggan memahami sepenuhnya karakteristik fisik dan kimia polutan, termasuk: analisis komposisi kimia, analisis kandungan komponen, analisis struktur molekuler, dan analisis karakteristik fisik dan kimia lainnya.

Barang Layanan

Melayanijenis	MelayaniBarang
Analisis komposisi unsur bahan semikonduktor	l Analisis unsur EDS, l Spektroskopi fotoelektron sinar-X (XPS) analisis unsur
Analisis struktur molekul bahan semikonduktor	l Analisis spektrum inframerah FT-IR, l Analisis spektroskopi difraksi sinar-X (XRD), l Analisis pop resonansi magnetik nuklir (H1NMR, C13NMR)
Analisis mikrostruktur bahan semikonduktor	l Analisis irisan berkas ion fokus ganda (DBFIB), l Mikroskop elektron pemindaian emisi lapangan (FESEM) digunakan untuk mengukur dan mengamati morfologi mikroskopis, l Mikroskopi gaya atom (AFM) untuk pengamatan morfologi permukaan