Mikroskop Elektron Transmisi (TEM) adalah teknik analisis struktur mikrofisika berdasarkan mikroskop elektron berdasarkan berkas elektron sebagai sumber cahaya, dengan resolusi maksimum sekitar 0,1nm.Munculnya teknologi TEM telah sangat meningkatkan batas pengamatan mata telanjang manusia terhadap struktur mikroskopis, dan merupakan peralatan pengamatan mikroskopis yang sangat diperlukan di bidang semikonduktor, dan juga merupakan peralatan yang sangat diperlukan untuk penelitian dan pengembangan proses, pemantauan proses produksi massal, dan proses. analisis anomali di bidang semikonduktor.
TEM memiliki cakupan aplikasi yang sangat luas di bidang semikonduktor, seperti analisis proses pembuatan wafer, analisis kegagalan chip, analisis pembalikan chip, analisis proses semikonduktor pelapisan dan etsa, dll., basis pelanggan ada di seluruh pabrik, pabrik pengemasan, perusahaan desain chip, penelitian dan pengembangan peralatan semikonduktor, penelitian dan pengembangan material, lembaga penelitian universitas dan sebagainya.
Pengenalan kemampuan tim teknis GRGTEST TEM
Tim teknis TEM dipimpin oleh Dr. Chen Zhen, dan tulang punggung teknis tim memiliki pengalaman lebih dari 5 tahun di industri terkait.Mereka tidak hanya memiliki pengalaman yang kaya dalam analisis hasil TEM, tetapi juga pengalaman yang kaya dalam persiapan sampel FIB, dan memiliki kemampuan untuk menganalisis wafer proses lanjutan 7nm ke atas dan struktur utama berbagai perangkat semikonduktor.Saat ini, pelanggan kami ada di seluruh pabrik lini pertama dalam negeri, pabrik pengemasan, perusahaan desain chip, universitas dan lembaga penelitian ilmiah, dll., dan dikenal luas oleh pelanggan.
Waktu posting: 13 April-2024