DB-FIB
Pengenalan Layanan
Saat ini, DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) banyak diaplikasikan dalam penelitian dan inspeksi produk di berbagai bidang seperti:
Bahan keramik,Polimer,Bahan logam,Studi biologi，Semikonduktor,Geologi
Ruang lingkup layanan
Bahan semikonduktor, bahan molekul kecil organik, bahan polimer, bahan hibrida organik/anorganik, bahan non-logam anorganik
Latar Belakang Layanan
Dengan kemajuan pesat elektronik semikonduktor dan teknologi sirkuit terpadu, meningkatnya kompleksitas perangkat dan struktur sirkuit telah meningkatkan persyaratan untuk diagnostik proses chip mikroelektronik, analisis kegagalan, dan fabrikasi mikro/nano.Sistem FIB-SEM Dual Beam, dengan kemampuan permesinan presisi dan analisis mikroskopisnya yang canggih, telah menjadi sangat diperlukan dalam desain dan manufaktur mikroelektronik.
Sistem FIB-SEM Dual Beammengintegrasikan Focused Ion Beam (FIB) dan Scanning Electron Microscope (SEM). Alat ini memungkinkan pengamatan SEM secara real-time terhadap proses pemesinan mikro berbasis FIB, menggabungkan resolusi spasial tinggi dari berkas elektron dengan kemampuan pemrosesan material presisi dari berkas ion.
Barang Layanan
Lokasi-Persiapan Penampang Spesifik
TPencitraan dan Analisis Sampel EM
SPemeriksaan Etching elektif atau Pemeriksaan Etching yang Ditingkatkan
MPengujian Deposisi Lapisan Isolasi dan Etal
-
Telepon
-
E-mail
-
Atas